KI-Zuverlässigkeit in der Produktion: Prüfwerkzeuge für systematisches Testen von KI-Modellen

In den letzten Jahren bieten Technologien der künstlichen Intelligenz (KI) neue Möglichkeiten zur Steigerung von Qualität und Effizienz in der Produktion. Damit das hiermit verbundene Potenzial vollständig ausgeschöpft werden kann, ist der Nachweis der Zuverlässigkeit von KI unabdingbar, insbesondere für den Einsatz der KI in automatisierten Produktionssystemen. Für einen belastbaren Zuverlässigkeitsnachweis sind Tests erforderlich, bei denen die KI-Modelle auf verschiedene Fehlerarten geprüft werden. Dieser Beitrag stellt anhand von drei Anwendungsfällen aus der industriellen Produktion vor, wie mit spezialisierten Prüfwerkzeugen Tests von KI-Modellen durchgeführt werden können, die systematische Schwächen in den KI-Modellen aufdecken. Damit die KI-Tests effizient durchgeführt und Testresultate automatisiert dokumentiert werden, sind die Prüfwerkzeuge in eine skalierbare Prüfplattform integriert.

  • Published in:
    Zeitschrift für wirtschaftlichen Fabrikbetrieb
  • Type:
    Article
  • Authors:
    Gannamaneni, Sujan Sai; Haedecke, Elena; Pintz, Maximilian; Poretschkin, Maximilian; Mock, Michael
  • Year:
    2025

Citation information

Gannamaneni, Sujan Sai; Haedecke, Elena; Pintz, Maximilian; Poretschkin, Maximilian; Mock, Michael: KI-Zuverlässigkeit in der Produktion: Prüfwerkzeuge für systematisches Testen von KI-Modellen, Zeitschrift für wirtschaftlichen Fabrikbetrieb, 2025, 120, s1, 159--165, March, Walter de Gruyter GmbH, Gannamaneni.etal.2025b,

Associated Lamarr Researchers

lamarr institute person Gannamaneni Sujan Sai e1663925008286 - Lamarr Institute for Machine Learning (ML) and Artificial Intelligence (AI)

Sujan Sai Gannamaneni

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lamarr institute person Poretschkin - Lamarr Institute for Machine Learning (ML) and Artificial Intelligence (AI)

Dr. Maximilian Poretschkin

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lamarr institute person Mock Michael - Lamarr Institute for Machine Learning (ML) and Artificial Intelligence (AI)

Dr. Michael Mock

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